MOSFET热阻量测、双热阻建模及应用验证


来源:贝思科尔          2021/1/18 19:55:01


MOSFET热阻量测、双热阻建模及应用验证

Part Ⅰ:MOSFET双热阻测量

Part Ⅱ:双热阻模型应用验证(器件级/板级)

image.png

image.png

image.pngimage.png

image.png

image.png

image.png

image.png

image.png

image.png

image.pngimage.png

image.pngimage.png

image.png

image.pngimage.png

image.pngimage.png


image.png




更多业务咨询,请联系


image.png

电话:13500040761

邮箱:george_qiu@basicae.com



 

   链接地址:https://mp.weixin.qq.com/s/dpu73T3QmntDRoHCvbZFAA