几种常见器件(IC、MOSFET、IGBT、HPD、SiC、GaN等)热特性量测案例分享


来源:贝思科尔          2021/8/11 15:31:19


上周三(8月4号),贝思科尔的高级应用工程师王工在线分享了《几种常见器件的热特性量测案例分享》。

本次直播分享了集中常见器件(IC、MOSFET、IGBT、HPD、SiC、GaN等)的热特性量测案例,主要讲解其原理,流程,测试方法,条件设置,结果分析与汇总等。

image.png


扫描下方二维码可观看本次直播回放:

8.4.png


在直播过程中,不少客户提出了他们的问题,我们的工程师一一为他们解答。

image.png

(客户提出的部分问题)


如需本次活动的讲义资料,请添加微信

添加时请备注:单位名称+名字

image.png