ATS

闭环风洞

风洞的用途: 1.元器件研究:为半导体器件、IC的结到环境热阻的测试提供满足JESD51-6标准要求的强制对流环境。 2.散热器热特性研究:可以测试不同尺寸的散热器在不同对流条件下的热特性和流阻。 3.PCB板研究:研究PCB板在特定环境下的热量及流场分布。流场可视化:在特制的测试段内,通过观察烟雾或气泡等手段直接观察风洞内的流场分布。 4.根据实际需求不同,我们提供了三种不同类别的风洞:闭环风洞、开环风洞和便携式风洞。闭环风洞能够改变风洞内的流速及温度;开环风洞只能改变流速;便携式风洞体积比较小,便于移动。

传感器

ATS专利单传感器技术,精确地测试温度和速度并消除误差。 上世纪90年代末,Advanced Thermal Solutions公司推出了具有专利的单传感器技术,通过单传感器测量温度和速度,消除了非等温气流造成的误差,从而彻底改变了该行业。其中推出的烛台式传感器是一款360°的读数传感器,在测试空间内尽可能不引入流动误差,从而确保最高的准确性。ATS为其客户总共提供了8种不同的传感器型号和超过100种的定制传感器。

台式开环风洞

台式便携式风洞,用于元件、PCB板和散热器的热特性分析

台式闭环风洞的自动控制器

CLWTC-1000™专为CLWT-067™闭环风洞定制,旨在自动控制通过测试室的气流和温度。控制器使用 Windows PC(不包括)管理和测量空气速度和空气温度,并获取有关被测样品的连续数据。

风洞控制器

WTC-100™风洞控制器是一款控制风洞或卡槽中风速的设备。通过对风洞或卡槽中的风扇盘进行控制,来识别对散热器、PCB板和元件的热特性。

高功率元件模拟器

ATS的HP-97™系列是用于模拟元件散热条件的高功率元件模拟器。HP-97™系列具有32x32mm铝块和嵌入高温Derlin®外壳并安装在FR4板上的筒式加热器。Derlin®以其刚度、尺寸稳定性、抗冲击性和结构强度而闻名。

开环风洞(1)

风洞的用途: 1.元器件研究:为半导体器件、IC的结到环境热阻的测试提供满足JESD51-6标准要求的强制对流环境。 2.散热器热特性研究:可以测试不同尺寸的散热器在不同对流条件下的热特性和流阻。 3.PCB板研究:研究PCB板在特定环境下的热量及流场分布。流场可视化:在特制的测试段内,通过观察烟雾或气泡等手段直接观察风洞内的流场分布。 4.根据实际需求不同,我们提供了三种不同类别的风洞:闭环风洞、开环风洞和便携式风洞。闭环风洞能够改变风洞内的流速及温度;开环风洞只能改变流速;便携式风洞体积比较小,便于移动。

开环风洞(2)

风洞的用途: 1.元器件研究:为半导体器件、IC的结到环境热阻的测试提供满足JESD51-6标准要求的强制对流环境。 2.散热器热特性研究:可以测试不同尺寸的散热器在不同对流条件下的热特性和流阻。 3.PCB板研究:研究PCB板在特定环境下的热量及流场分布。流场可视化:在特制的测试段内,通过观察烟雾或气泡等手段直接观察风洞内的流场分布。 4.根据实际需求不同,我们提供了三种不同类别的风洞:闭环风洞、开环风洞和便携式风洞。闭环风洞能够改变风洞内的流速及温度;开环风洞只能改变流速;便携式风洞体积比较小,便于移动。

ATS热线风速仪

ATS提供了大量的测试设备,方便用户进行广泛的热测试。通过这些测试设备,用户可以精确地测试固体表面不同位置的温度、环境温度、空气速度以及压力等参数。所有的测试设备均可配合ATS的各种高精度传感器使用。所有的测试设备均采用ATS专利的单传感器技术,可以使用一个传感器测试温度和速度,并能有效地消除空气流动导致的测试误差。